參眾國際專利商標聯合事務所 10667 台北市大安區復興南路2段381號3樓之2

台灣新增「設計專利以圖找圖」功能beta版對外開放試行智慧局為提升設計專利檢索效能與便利性，本（114）年度於產業專利知識平台新增「本國設計專利以圖找圖」功能（beta版），收錄自民國 102 年起公告之設計專利案件，並運用智慧圖像比對技術，協助使用者透過圖片快速檢索相似案件，突破傳統僅能依文字敘述查詢的限制，提供更直覺且精準的檢索方式，有助於研發創新及權利管理。 ※功能特色如下圖片上傳與比對：使用者上傳圖片進行相似案件檢索時，系統會自動框選圖樣並標示紅框。局部裁切檢索：除完整圖片比對外，亦可透過裁切工具，針對特定部分進行檢索。 LOC 分類整合：支援輸入國際工業設計分類號（LOC），結合圖像與分類雙重檢索，快速鎖定特定領域案件。多重篩選條件：檢索結果可依發明人、申請人、公開年度與 LOC 進一步篩選，協助快速聚焦需求。資料來源：台灣智財局公告台灣設計專利以圖找圖連結：https://cloud.tipo.gov.tw/S400/patent/search/image https://www.jsk-tw.com/hot_525214.html 台灣新增「設計專利以圖找圖」功能beta版對外開放試行 2025-11-14 2026-11-14

參眾國際專利商標聯合事務所 10667 台北市大安區復興南路2段381號3樓之2 https://www.jsk-tw.com/hot_525214.html

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